 |
 |
●スパッタ・真空蒸着・試料作成
・その他真空・試験計測・画像取込/観察
・描画・ステージ ●会社概要 ●お問い合わせ ●求人情報 ●原理と仕組み ●研究室リンク |
|
|
|
 |
 |
| 試験計測機器 |
|||||||||||
|
|||||||||||
| ■ 電子ビーム3次元計測装置 SDM-7501 
【 特 徴 】− ｢観察主体｣から、｢計測もできる走査型電子顕微鏡｣へ グレードアップ。 − お手持ちの走査型電子顕微鏡に後付できる、電子ビー ムを利用した表面粗さ計測装置です。 − 非接触・非破壊・高い分解能での計測が可能 − 高性能反射電子検出器採用 − ノーマルタイプの反射電子検出器により、TOPO像 / COMPO像 / OUTLINE像に加えて、SEI像の同時取得、 及び表示が可能です。 |
|||||||||||
 |
|||||||||||
| |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|